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低能离子散射谱 Qtac-100时间：2018-05-16 低能离子散射谱 Qtac-100 催化反应一般只发生在材料的最表层。低能离子散射谱（Low-Energy In Scattering ,LEIS)利用具有特定能量的惰性气体离子入射到样品表面，与样品表面的原子进行弹性碰撞。根据弹性散射理论，散射离子的能量分布与表面原子的原子量相关。通过对散射离子能量进行分析，就可以得到表面元素组分及表面结构的信息。低能离子散射谱所获得的信息来自样品的最表层，因而是研究表面成分、表面结构以及表面过程的强有力的手段。
低能粒子散射谱原理示意图
ION-TOF公司的Qtac-100型低能离子散射谱仪采用新型离子收集器，相比传统LEIS系统，灵敏度提高3000倍!
主要特点如下：
低能离子散射谱(LEIS)的一个显著特点就是其超高的表面灵敏度和良好的定量性。相对于其他常见的表面分析手段，例如XPS 、 AES ，它最大的特点是可以把信息深度缩小到单原子层厚度。配合上深度剖析， 则可以实现从表面单原子层成分分布成像，到样品深度方向成分变化等多种测量。 应用：
Q-tac 应用实例
Qtac 系统实物 |
