作为德国IONTOF在中国的唯一总代理,我司共销售三种高端表面分析仪器:
主要销售飞行时间二次离子质谱仪(简称TOF-SIMS,新一代型号为M6,上一代高性能TOF.SIMS 5型TOF-SIMS系统仍然在售)及其功能拓展联用系统(如M6 Hybrid SIMS和M6 Plus),此外还提供低能离子散射能谱仪(简称LEIS,型号Qtac100)和高分辨磁力显微镜(简称hr-MFM,型号VLS-80)。
ToF-SIMS 原理视频介绍(10min)
(点击图片了解ToF-SIMS 原理、功能、性能)
飞行时间二次离子质谱
TOF-SIMS 技术原理:
低能离子散射能谱
LEIS 技术原理:
新型扫描探针显微镜
SPM 技术原理:
利用高能聚焦的一次离子轰击样品表面,与样品表层原子相互作用,通过级联碰撞,把动能传递给表面原子,引起表面1-3个原子层的原子发生溅射,通过飞行时间质量分析器分析溅射粒子中的二次离子信号,可以得到表面元素及分子信息,以及2D甚至3D化学分布特征。
利用具有特定能量的惰性气体离子入射到样品表面,与样品表面的原子进行弹性碰撞。根据弹性散射理论,散射离子的能量分布与表面原子的原子量相关。通过对散射离子能量进行分析,就可以得到表面元素组分及表面结构的信息。
LEIS 原理视频介绍(10min)
(点击图片了解LEIS 原理、功能、性能)
采用磁性探针对样品表面进行扫描检测,扫描过程中磁性探针以特定形式频率和振幅振动,其振幅和相位发生变化就能得到样品表面磁场的分布,从而得到磁性结构的分布。
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