作为德国IONTOF在中国的唯一总代理，我司共销售三种高端表面分析仪器：

主要销售飞行时间二次离子质谱仪（简称TOF-SIMS，新一代型号为M6，上一代高性能TOF.SIMS 5型TOF-SIMS系统仍然在售）及其功能拓展联用系统（如M6 Hybrid SIMS和M6 Plus），此外还提供低能离子散射能谱仪（简称LEIS，型号Qtac100）和高分辨磁力显微镜（简称hr-MFM，型号VLS-80）。

ToF-SIMS 原理视频介绍(10min)

（点击图片了解ToF-SIMS 原理、功能、性能）

飞行时间二次离子质谱

TOF-SIMS 技术原理：

低能离子散射能谱

LEIS 技术原理：

新型扫描探针显微镜

SPM 技术原理：

  利用高能聚焦的一次离子轰击样品表面，与样品表层原子相互作用，通过级联碰撞，把动能传递给表面原子，引起表面1-3个原子层的原子发生溅射，通过飞行时间质量分析器分析溅射粒子中的二次离子信号，可以得到表面元素及分子信息，以及2D甚至3D化学分布特征。

  利用具有特定能量的惰性气体离子入射到样品表面，与样品表面的原子进行弹性碰撞。根据弹性散射理论，散射离子的能量分布与表面原子的原子量相关。通过对散射离子能量进行分析，就可以得到表面元素组分及表面结构的信息。

LEIS 原理视频介绍(10min)

（点击图片了解LEIS 原理、功能、性能）

  采用磁性探针对样品表面进行扫描检测，扫描过程中磁性探针以特定形式频率和振幅振动，其振幅和相位发生变化就能得到样品表面磁场的分布，从而得到磁性结构的分布。

全新 M6 视频介绍(40min)

（点击图片了解前沿的ToF-SIMS 性能水平）

M6 Hybrid SIMS 视频介绍(10 min，点击图片了解 M6 Hybrid SIMS）

M6 Plus 视频介绍

（5 min，点击图片了解 M6 Plus ）

飞 行 时 间 二 次 离 子 质 谱

(TOF-SIMS)

Qtac-100 视频介绍

1、Qtac 简介

3、Qtac 深度信息

2、Qtac 样品制备

4、Qtac 深度剖析

5、Qtac 薄膜分析

6、Qtac 定量分析

低 能 离 子 散 射 能 谱

(LEIS)